簡要描述：MEEPLIBS可以在微米尺度上做空間分辨的元素分析，實現了與傳統的顯微鏡實現*結合，標準分析口徑大小為15微米和18微米(Z小可做到4微米)，可在室溫大氣環境中測試，也可在特定的環境中測試。
廣泛應用于半導體材料、面板材料的微米尺度空間分辨率的實時元素分析。http://www.teo.com.cn/templates/jinxianfeng_001/second_134.html

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