OLED-IVL及視角測量系統，是集成PR系列成像亮度計、源表、CCD精準對位以及多軸高精度運動機構的一整套測試方案。該系列設備具有4款標準機型，可滿足客戶IVL測試時單工位、多工位、變溫以及帶視角測量等的不同測試需求。為廣大用戶在OLED器件研發與生產測試環節提供了便捷性與可靠性。

1、OLED-IVL及視角測量系統主要測試參數

·       IVL曲線繪制：IV曲線、電流密度、電流-亮度曲線、光效曲線、電流效率、流明效率

·       光學參數：亮度、XYZ三刺激值、CIE1931色坐標x,y、CIE1976色坐標u’ v’、峰值波長、光譜輻射度數據、CCT、EQE等

·       電學參數：電流、電壓、功率等

2、標準機型

2.1單工位緊湊型OLED器件IVL及視角測量系統（OLED-IVL-Mini-M/A）

·       經濟實用型的科研/研發階段OLED器件IVL測試系統

·       適用于對空間要求嚴格的測量場景，可放置于手套箱用于未封裝器件使用。

·       可集成轉臺測量視角，可集成EQE積分球。

·       可按照需求定制測試距離兼容近攝頭及MS-75標準鏡頭。支持治具的靈活定制與切換。

·       手動測量版和全自動測量版本可選。

積分球(選配)

測量原理：

2.2單工位OLED器件IVL及視角測量系統（OLED-IVL-LAB ）

·       主要用于實驗室科研或者產品研發階段的IVL測試。

·       可拓展成多工位機型，也可取消預留工位從而做小型化設計。

·       滿足器件高低溫IVL的測試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制，特殊溫度可定制。

·       滿足器件不同視角的測試。視角測量范圍最大可支持±90°，視角分辨率可達0.1°。

·       配備完整的視覺相機，可有效確保檢測中心與產品中心一致。

·       運動直線模組重復精度為±0.01mm，旋轉模組重復定位精度±0.1°，有效提高測試過程中的對位效率，提高準確性。

檢測原理

2.3多工位帶視角OLED器件IVL測量系統（OLED-IVL-FA ）

·       系統配備多通道源表，可支持多工位測量（可根據具體器件和發光點數量定制）。

·       滿足器件高低溫IVL的測試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制，特殊溫度可定制。

·       滿足器件不同視角的測試。視角測量范圍最大可支持±90°，視角分辨率可達0.1°。

·       配備完整的視覺相機，可有效確保檢測中心與產品中心一致。

·       運動直線模組重復精度為±0.01mm，旋轉模組重復定位精度±0.1°，有效提高測試過程中的對位效率，提高準確性。

多工位旋轉治具

測試原理

2.4多工位OLED器件IVL綜合測量系統（OLED-IVL-FA-PRO ）

系統特點：

·       系統配備多通道源表，可支持多工位測量（可根據具體器件和發光點數量定制）。

·       同時配備多組治具，支持常溫、高低溫、不同角度的多種需求混合測試。

·       溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制，特殊溫度可定制。

·       視角測量范圍最大可支持±90°，視角分辨率可達0.1°。

·       配備完整的視覺相機，可有效確保檢測中心與產品中心一致。

·       運動直線模組重復精度為±0.01mm，旋轉模組重復定位精度±0.1°，有效提高測試過程中的對位效率，提高準確性。

測試原理：

3、標準軟件

IVL測試主界面

手動界面

光譜圖

CIE

IVL曲線